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赖李洋 教授
博士,教授,主要从事芯片可测试性设计和电子设计自动化(EDA)的研究。博士毕业后在世界三大芯片EDA公司之一的Mentor Graphics工作十余年,拥有完整的可测试性设计从前端到后端,以及良率分析的业界经验。作为核心研发成员,参与实现的 ATPG、故障诊断、逻辑内嵌自测试和 iJTAG 等芯片EDA工具软件曾获2013年DesignCon(行业顶级会议) IC Design Tools Award、2011年TSMC 28nm and 3D IC reference flow和2009年Te...
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